1. 加熱系統(tǒng)：

設(shè)備內(nèi)置高溫電爐，采用高精度溫控系統(tǒng)，按照預(yù)設(shè)升溫曲線勻速升溫。爐內(nèi)形成均勻溫場，將被測試樣整體加熱至目標溫度（可覆蓋室溫至 1600℃/1800℃區(qū)間），使試樣隨溫度升高產(chǎn)生熱脹冷縮物理形變。

2. 機械頂桿傳導(dǎo)：

爐內(nèi)設(shè)置耐高溫測桿（頂桿），一端緊貼試樣端面，另一端延伸至爐體外部。 試樣受熱發(fā)生長度變化時，微小的膨脹 / 收縮位移會通過硬質(zhì)、低膨脹系數(shù)的測桿無損耗傳導(dǎo)至外部檢測機構(gòu)，避免高溫環(huán)境干擾形變數(shù)據(jù)。

3. 位移檢測：

外部搭配高精度位移傳感器（千分表 / 光柵位移計 / 電感測微儀），實時采集測桿傳遞的位移數(shù)值。 傳感器將機械位移轉(zhuǎn)化為電信號，全程連續(xù)記錄試樣在不同溫度點的長度變化量。

4. 數(shù)據(jù)運算與輸出

控制系統(tǒng)同步采集實時溫度與對應(yīng)形變量，根據(jù)公式自動計算： 平均線膨脹系數(shù) = 總膨脹量 ÷ (試樣原長 × 溫度變化值) 最終生成溫度 — 膨脹量、溫度 — 膨脹系數(shù)曲線及檢測報告。